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ZEISS METROTOM

利用蔡司的工業計算機斷層掃描系統,僅需一次 X 射線掃描,即可順利完成工件的測量和檢驗。標準的驗收檢測、精密工程和完善的校準程序可確保系統的追蹤性。配備線性導軌及轉臺,滿足客戶對精確性的高要求。

 

CT METROTOM

面向未來的質量控制——今天

十二年來,蔡司METROTOM系列一直為質量控制提供可靠的CT技術。第三代計算機斷層掃描(CT)系統蔡司METROTOM 1500極好地證明了先進可靠的X射線技術不再是未來的愿景。今天,您可以使用面向未來的質量控制。

看得更多

     在第三代系統中,新的3k檢測器可生成更高分辨率的3D體數據集,即更多體素可以檢測到更小的缺陷。

掃描更快

通過檢測器的不同操作模式,掃描時間可減少多達75%,同時獲得與2k檢測器相當的體素尺寸。

 

測量與檢驗整體部件

蔡司METROTOM是一種工業計算機斷層掃描系統,用于測量和檢查由塑料或輕金屬制成的完整部件。而在利用傳統測量機測量時,此類隱藏性的結構信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。

 

輕松且精準地進行多樣化特征檢測

利用蔡司METROTOM 計算機斷層掃描系統可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結果非常精確,且具可追溯性。和接觸式測量方法不同,蔡司METROTOM 獲取海量測量點時,時間顯著縮短。

 

 

 

 

 

蔡司METROTOM系列

METROTOM 800 130 kV

高精準度

部件尺寸

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精度

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時間

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面積

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密度

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分辨率

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部件尺寸

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精度

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時間

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面積

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密度

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分辨率

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ZEISS METROTOM 800 225kV HR

快速獲取,高密度的部件和細節描述

部件尺寸

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精度

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時間

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面積

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密度

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分辨率

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ZEISS METROTOM 1500

即使對于非常大的部件也能實現更多的靈活

部件尺寸

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精度

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時間

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面積

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密度

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分辨率

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